知识 资源 为什么 Sn-Ag-Co 焊料的 TLP 键合必须在真空中启动?无缺陷接头的关键因素
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技术团队 · Kintek Press

更新于 2 周前

为什么 Sn-Ag-Co 焊料的 TLP 键合必须在真空中启动?无缺陷接头的关键因素


瞬态液相 (TLP) 键合工艺要求在真空中启动,以便在关键加热发生之前明确清除接头界面上的残留空气。通过建立这种环境(通常在升温至 250 °C 的过程中),您可以防止焊料成分和基板表面的氧化,这是 Sn-Ag-Co 等复合焊料中焊点失效的主要原因。

核心要点 真空环境是 TLP 键合中接头质量的基础控制机制。它消除了氧化引起的物理屏障,确保了原子扩散,这是实现牢固润湿性和高质量金属间化合物生长的必要条件。

防止氧化的关键作用

清除残留空气

真空的主要功能是清除夹在接头界面中的残留空气

如果在初始加热阶段残留这些空气,氧分子会立即与金属表面发生反应。

保护基板和焊料

焊料成分(Sn-Ag-Co)和基板表面在高温下都具有高度反应性。

真空确保这些材料在温度升至 250 °C 时保持其纯金属状态。

没有这种保护,会形成一层氧化物,这层陶瓷状的保护层会隔离焊料与基板。

实现高质量的焊点形成

提高焊料润湿性

清洁、无氧化物的表面是润湿性的先决条件。

当焊料在真空中熔化时,它可以均匀地铺展在基板上,而不会遇到表面污染物引起的阻力。

优异的润湿性确保了连接材料之间最大的接触面积。

无阻碍的金属原子扩散

TLP 键合完全依赖于金属原子在界面上的扩散

氧化物充当扩散屏障,物理上阻止了焊料和基板之间原子的移动。

消除氧化威胁后,焊料进入液相的那一刻,这些原子就可以自由地相互混合。

促进金属间化合物 (IMC) 成核

TLP 键合的最终目标是形成稳定的金属间化合物 (IMC)

真空环境促进了这些化合物的成功成核和生长

这会产生高质量、均匀的焊点结构,而不是一个充满氧化物夹杂物的薄弱、不连续的界面。

应避免的常见陷阱

抽空不完全的风险

如果真空度不足或在加热过程的后期才开始抽真空,就会发生部分氧化

即使是微观的氧化斑点也会破坏 IMC 层的均匀性,造成应力集中点。

润湿性差的后果

未能建立真空会导致润湿不良或不润湿行为。

在这种情况下,熔化的焊料会聚集成珠而不是铺展,导致出现空隙和机械强度差的焊点,无法承受热循环或机械循环。

确保工艺可靠性

为最大化 Sn-Ag-Co 复合焊点的性能,请根据您的具体可靠性目标调整工艺参数。

  • 如果您的主要关注点是机械强度:确保在熔点之前建立真空,以保证连续、无氧化物的 IMC 层。
  • 如果您的主要关注点是工艺一致性:标准化真空度和加热至 250 °C 的升温速率,以消除润湿性方面的变量。

真空环境不仅仅是一个清洁步骤;它是成功 TLP 键合所需的原子力学过程的实现者。

总结表:

因素 真空环境的作用 对焊点质量的影响
氧化控制 清除残留空气和氧分子 防止在活性金属上形成陶瓷状氧化层
润湿性 保持纯金属表面 确保焊料均匀铺展和最大接触面积
原子扩散 消除物理屏障 实现界面处金属原子的无阻碍运动
IMC 形成 促进稳定成核 形成均匀、高强度的金属间化合物结构

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参考文献

  1. Byungwoo Kim, Yoonchul Sohn. Transient Liquid Phase Bonding with Sn-Ag-Co Composite Solder for High-Temperature Applications. DOI: 10.3390/electronics13112173

本文还参考了以下技术资料 Kintek Press 知识库 .

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